Microscopio per metallografia campo chiaro/campo scuro
Soluzione completa per osservazione e analisi metallografica in campo chiaro e campo scuro, composta da microscopio metallografico a luce incidente, camera digitale USB 3.0 e software di analisi immagini.
Il sistema integra una configurazione trinoculare con testa a tre posizioni (100/0, 50/50, 0/100), illuminazione dedicata per applicazioni metallografiche e componenti ottici specifici per l’osservazione di campioni di materiali.
Il sistema comprende
- Oculari PL10x/22 con gommini
- Oculare PL10x/22 micrometrico
- Testa trinoculare a tre posizioni (100/0, 50/50, 0/100)
- Attachment MET BF e campo oscuro, 18W LED
- Corpo MET DF con illuminazione X-LED8
- Obiettivi IOS LWD U-PLAN MET BD: 5x/0.15, 10x/0.30, 20x/0.45, 50x/0.55, 100x/0.80 (dry)
- Tavolino in vetro per MET
- Condensatore swing-out MET, A.N. 0.70
- Adattatore C-mount focchettabile 0.35x
- Camera digitale P3 Pro, 3.1 MP CMOS, USB 3.0
- Software di analisi immagini SWPROMET (BioVis ProView MET)
Camera digitale USB 3.0
- Risoluzione: 2048 x 1536 px (3.1 MP)
- Sensore: CMOS SONY EXMOR
- Frame rate: 50 fps a 2048×1536; 50 fps a 1920×1080
- Tempo di esposizione: 0.1 ms – 15 s
- Connessione: USB 3.0
Software di analisi immagini SWPROMET
Sistema di imaging per analisi ad alte prestazioni su campioni metallografici o di scienza dei materiali, progettato per supportare analisi di routine e di ricerca. Consente workflow efficienti e risultati accurati e riproducibili, con funzioni di analisi automatica e reportistica.
- Moduli di analisi conformi a standard internazionali (ASTM, ISO, JIS)
- Automazione dell’analisi su batch fino a 500 immagini
- Generazione report con immagini e tabelle, stampabili o salvabili in Word
- Esportazione dati e risultati in formato Text, Word o Excel
- Possibilità di preparare fino a 16 maschere binarie da una singola immagine per analisi separate
- Macro preconfigurate e possibilità di creare macro personalizzate
Moduli di analisi disponibili
- Grain Size (ASTM E112, ASTM E1382)
- Inclusions (ASTM E45, ASTM E1122)
- Phase / Volume Fraction (ASTM E562)
- Nodularity (ASTM A247 o definita dall’utente)
- Graphite Flake
- Porosity (anche ASTM B276)
- Coating Thickness
- Decarburization depth
- Banding (ASTM E1268)
- Dendritic Arm Spacing
- Microhardness (ASTM E1384)
cod: MDMTL-02


DTX-4
MD51B3SW